TH2826 系列元件测试仪是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器,其 0.1% 的基本精度、 20Hz ~ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求,可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。
TH2826 系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超 高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机,压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。TH2826 系列产品 以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如 IEC 和 MIL 标准的各种测试。
| test parameter | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
| Test Frequency | TH2826 | 20 Hz~5MHz,10mHz步进 |
| Test Signal Level | f≤1MHz | 10mV~5V,±(10%+10mV) |
| f>1MHz | 10mV~1V,±(20%+10mV) | |
| Output Impedance | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
| Fundamental Accuracy | 0.1% | |
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Display range
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L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ~ 9.9999F | |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ | |
| Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S | |
| D | 0.0001 ~ 9.9999 | |
| Q | 0.0001 ~ 99999 | |
| θ | -179.99°~ 179.99° | |
| Measurement speed | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
| calibration function | 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 | |
| equivalence mode | 串联方式, 并联方式 | |
| Measurement range | Automatic, Hold | |
| Display mode | 直读, Δ, Δ% | |
| trigger method | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
| 内部直流偏 | 电压模式 | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
| 置源 | 电流模式(内阻为50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
| Comparator Functions | 10档分选及计数功能 | |
| monitor (computer) | 320 x 240 dot matrix graphic LCD display | |
| memory (unit) | 可保存20组仪器设定值 | |
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connector |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
| LAN(LXI class C support) | ||
| RS232C | ||
| HANDLER | ||
| GPIB(选件) | ||
■ 测试频率:20Hz~5MHz,分辨率:10mHz步进
■ Basic accuracy: 0.1%
■ 测试速度:200次/s
■ 压电陶瓷、超声波换能器等器件的阻抗分析
■ 具有多参数多频列表扫描功能
■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ Internal self-contained DC bias source
■ 外置偏流源至40A(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ Selectable operation interface in Chinese and English
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
■ 无源元件
Evaluation of impedance parameters and performance analysis of capacitors, inductors, cores, resistors, piezoelectric devices, transformers, chip assemblies, and network components, etc.
■ semiconductor element
Test and analysis of parasitic parameters of LED driver integrated circuits; C-VDC characteristics of varactor diodes; analysis of parasitic parameters of transistors or integrated circuits
■ 其它元件
Impedance evaluation of printed circuit boards, relays, switches, cables, batteries, etc.
■ 介质材料
Evaluation of dielectric constants and loss angles of plastics, ceramics and other materials
■ 磁性材料
Evaluation of permeability and loss angle of ferrites, amorphous and other magnetic materials
■ 半导体材料
Dielectric constant, electrical conductivity and C-V properties of semiconductor materials
■ 液晶单元
C-V properties such as dielectric constant, elasticity constant, etc.
| standard equipment | |||||
| Accessory Name | model number | ||||
| fixture (machining) | TH26048 | ||||
| short circuit board | TH26010 | ||||
| Boxed Four-Ended Insulated Locking Kelvin Test Leads | TH26011BS | ||||
Comprehensive test and measurement service provider-Shenzhen Weike Electronic Technology Co.















