Comprehensive test and measurement service provider-Shenzhen Weike Electronic Technology Co.
■ TH2840系列LCR数字电桥是常州同惠电子采用了新一代技术
研制成功的新一代LCR数字电桥，创新性的采用了双CPU架构、
Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使
用说明及帮助等新一代技术，解决了以往LCR测试速度慢、显示单
一、操作繁琐等缺陷。
TH2840系列LCR数字电桥设计频率从20Hz-500kHz/2MHz，
弥补了500kHz频率范围内缺乏高性能电桥的缺点。
得益于采用了10.1寸、分辨率达1280*800的电容式触摸屏，
TH2840系列LCR数字电桥采用了四参数显示、所有设置、监视、
分选参数、状态等可以在同一屏显示，避免了频繁切换的繁琐操
作。
A.10.1寸大屏，四种测量参数，让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率，Linux系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN接口，带来的是无以伦比的操作便捷
性。
大屏幕带来更多的好处是，可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝不拥
挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比，操作便捷性、显示完整性一目了然。
B.高达1800次/秒测量速度
由于创新性的采用了双CPU设计，一个CPU负责测试处理数据，另一个CPU负责显示数据，因此TH2840测试速度高达1800次/秒。
高速的测试速度在自动化产线可以极大的提高效率。
对于部分需要实时采样体现被测件瞬态变化特征，或者测量变化过程相应时间，TH2840系列0.56ms的测量速度可完美解决。
如下列应用，在两个极板之间加载偏压，两端电容随着偏置电压变化而变化.
记录未加偏置时电容C0
偏置上升过程中的电容值
偏压达到20V并且稳定之后的电容C1
计算从C0-C1之间的稳定时间Th。
常规的LCR数字电桥，由于测试速度限制，采样率无法达到几
乎实时采集，用TH2840系列双CPU，可实时观察变化过程并计算
出稳定时间。
TH2840X上位机 示波器实时抓获波形
电容测试 CH1: AD脉冲（黄色）
测试频率：1MHz CH2: DC BIAS 打开（绿色)
量程：100Ω CH4: DC BIAS 上升（红色）
上升瞬间波形 全部波形
C.超强硬件配置
除了双CPU设计，TH2840系列也增强了其他硬件配置参数：
1. AC测试电平提升至20Vrms/100mA，同类产品仅TH2838H可达到，在测试C-V曲线时范围更广
2. DC偏置为±40V/±100mA，为同类产品最高配置
3. 标配独立2A直流偏置电流源，为2A电流以内电感测试带来福音，支持外界TH1778A系列扩展至120A。
4. DCR测试电平提升至20V，测试mH级及以上电感更快速稳定精确。
D.改进的分选设置
针对以往LCR分选设置及参考设
置来回切换等过于复杂的操作，做出
了如下改进以便于客户使用及设置：
1. 合并标称值和参考值的设置
2. 由于直接采用了4参数测量及
分选，因此取消附属档、副参
数档。
E.增强的列表扫描功能 F.强大的分析图形界面
可设置4个测量参数，4个测量参数有独立开关，列表扫 4个扫描轨迹，1-4个测试参数任意选择，扫描曲线可以
描每个点的频率,电平,偏置,功能,延时都可以独立设置,满足了 一分屏、二分屏、四分屏。
大多数客户的需求。
G.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选，为客户产品质量分级提供了可 在与自动化设备连接时，怎么配置HANDLER接口
能，分选结果直接输出至HANDLER接口。 输出，一直是自动化客户的难题，TH2840系列LCR将
HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式
等完全可视化，让自动化连接更简单。
H.智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等，都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新，而无需返厂进行。
TH2840系列LCR数字电桥固件升级非常智能，可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行，智能搜索仪器内存、外接优盘
甚至是局域网内升级包，并自动进行升级。
I.选配附件
| Product Model | TH2840A | TH2840B | ||
|
demonstrate |
monitor (computer) | 10.1英寸电容触摸屏 | ||
| 比例 | 16:9 | |||
| resolution (of a photo) | 1280×RGB×800 | |||
|
measured parameter |
way (of life) | 四参数任意选择 | ||
| AC | Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC | |||
| DC | RDC、VDC、IDC | |||
|
Test Frequency |
realm | 20Hz-500kHz | 20Hz-2MHz | |
| accurate | 0.01% | |||
|
resolution (of a photo) |
0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz) | |||
| 1mHz (100.000Hz-999.999Hz) | ||||
| 10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz) | ||||
| 100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz ) | ||||
| 1Hz (100.000kHz-999.999kHz) | ||||
| 10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz) | ||||
|
AC测试信号模式 |
额定值(ALC OFF) | 设定电压为测试端开路时Hcur电压 | ||
| 设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流 | ||||
| 恒定值(ALC ON) | 保持DUT上电压与设定值相同 | |||
| 保持DUT上电流与设定值相同 | ||||
|
测试电平 |
voltage range | 5mVrms-20Vrms | F≤1MHz 5mVrms-20Vrms
F＞1MHz 5mVrms-15Vrms |
|
| accuracy | ±（10%×设定值+2mV）（AC≤2Vrms）
±（10%×设定值+5mV）（AC＞2Vrms） |
|||
|
resolution (of a photo) |
1mVrms（5mVrms-0.2Vrms） | |||
| 1mVrms（0.2Vrms-0.5Vrms） | ||||
| 1mVrms(0.5Vrms-1Vrms) | ||||
| 10mVrms(1Vrms-2Vrms) | ||||
| 10mVrms(2Vrms-5Vrms) | ||||
| 10mVrms(5Vrms-10Vrms) | ||||
| 10mVrms(10Vrms-20Vrms) | ||||
| 电流范围 | 50μArms-100mArms | |||
|
分辨率(100Ω内阻) |
10μArms (50μArms-2mArms) | |||
| 10μArms (2mArms-5mArms) | ||||
| 10μArms (5mArms-10mArms) | ||||
| 100μArms (10mArms-20mArms) | ||||
| 100μArms (20mArms-50mArms) | ||||
| 100μArms (50mArms-100mArms) | ||||
|
RDC测试 |
voltage range | 100mV-20V | ||
| resolution (of a photo) | 1mV(0V-1V) | |||
| 10mV(1V-20V) | ||||
| 电流范围 | 0mA-100mA | |||
| resolution (of a photo) | 10μA(0mA-10mA) | |||
| 100μA(10mA-100mA) | ||||
|
DC偏置 |
voltage range | 0V-±40V | ||
| accuracy | AC≤2V 1%×设定电压+5mV | |||
| AC>2V 2%×设定电压+8mV | ||||
| resolution (of a photo) | 1mV(0V-1V) | |||
| 10mV(±1V- ±40V) | ||||
| 电流范围 | 0mA-±100mA | |||
| resolution (of a photo) | 10μA(0mA-10mA) | |||
| 100μA(10mA-100mA) | ||||
| 内置电流源 | 电流范围 | 0mA-2A | ||
| accuracy | I>5mA ±（2%×设定值+2mA） | |||
| resolution (of a photo) | 1mA | |||
| Test Side Configuration | 五端对 | |||
| 测试电缆长度 | 0m、1m、2m、4m | |||
| Output Impedance | 30Ω，±4%@1kHz | |||
| 100Ω，±2%@1kHz | ||||
| mathematical operation | 与标称值的绝对偏差Δ，与标称值的百分比偏差Δ% | |||
| 等效方式 | 串联、并联 | |||
| 校准功能 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | |||
| 测量平均 | 1-255次 | |||
| 量程选择 | 自动AUTO、手动HOLD | |||
| 量程配置 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | ||
| RDC | 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | |||
|
测量时间（ms） |
快速+:0.56ms
快速:3.3ms Medium speed: 90ms Slow: 220ms |
|||
| Maximum accuracy | 0.05% (refer to specifications) | |||
| Measurement display range | ||||
| Cs, Cp | 0.00001pF-9.99999F | |||
| Ls, Lp | 0.00001μH-99.9999kH | |||
| D | 0.00001-9.99999 | |||
| Q | 0.00001-99999.9 | |||
| r, rs, rp, x, z, rdc | 0.001mΩ-99.9999MΩ | |||
| G, B, Y | 0.00001μs-99.9999S | |||
| VDC | ±0V-±999.999V | |||
| IDC | ±0A-±999.999A | |||
| θr | -3.14159-3.14159 | |||
| θd | -179.999°-179.999° | |||
| Δ% | ± (0.000%-999.9%) | |||
|
Multi-function parameter list scanning |
check numbers | 201 points, each point can be set the average number of times, each point can be separate sorting | ||
| parameters | Test Frequency, AC Voltage, AC Current, DC BIAS Voltage, DC BIAS Current (100mA), DC BIAS Current (2A) | |||
|
Trigger Mode |
Sequential SEQ: When triggered once, measurements are taken at all scan points, /EOM/INDEX is output only once | |||
| Step STEP: Performs one scan point measurement per trigger and outputs /EOM/INDEX at each point, but list scan comparator results are only output at the last /EOM | ||||
| Other features | 1. Scanning parameters and test parameters have a variety of copy functions
2. Each scanning point can be set up delay time |
|||
| comparator | Each scanning point can measure up to four test parameters, each parameter can be set upper and lower limits, all test parameters are qualified to output PASS signal, otherwise output FAIL signal, not set upper and lower limits are not judged | |||
|
Graphic Scanning |
Scanning Points | Points 51, 101, 201, 401, 801 are optional | ||
| The results show that | Extreme values for each parameter and the scanned parameter value at the point where the cursor is located with the corresponding test parameter value | |||
| scanning track | 1-4 test parameters can be selected arbitrarily, and the scanning curve can be divided into one screen, two screens and four screens. | |||
| Display range | Real-time automatic, locked | |||
| coordinate scale | Logarithmic, linear | |||
| scanning parameter | Frequency, AC voltage, AC current, DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A) | |||
| trigger method | one-off | Trigger manually once, one scan from start to finish is completed, the next trigger signal starts a new scan | ||
| progression | Infinite loop scanning from start to finish | |||
| Results Saving | Graphics, documentation | |||
|
comparator |
Bin Staging | 10Bin, PASS, FAIL | ||
| Bin deviation setting | Deviation value, percent deviation value, off | |||
| Bin mode | Tolerance, continuous | |||
| Bin Count | 0-99999 | |||
| grade differentiation | Each file can set up to four parameter limit range, four test parameter results within the set file display corresponding file number, beyond the set maximum file number range will display FAIL, not set the upper and lower limits of the test parameters are automatically ignored file discrimination | |||
| PASS/FAIL indication | If Bin1-10 is met, the front panel PASS light is on, otherwise the FAIL light is on. | |||
| data cache | 201 measurements can be read in batches | |||
| store a call (computing) | inside (part, section) | Approx. 100M non-volatile memory test setup file | ||
| External USB | Test setup files, screenshot graphics, log files | |||
| Keyboard Lock | Lockable front panel keys, other functions to be expanded | |||
|
connector |
USB HOST | 2 USB HOST ports, can be connected to the mouse, keyboard, U disk at the same time can only use a | ||
| USB DEVICE | Universal Serial Bus socket, small Class B (4 contact positions); USB TMC-USB488 and USB2.0 compliant, female connector for connection to external controller. | |||
| LAN | 10/100M Ethernet Adaptive | |||
| HANDLER | For Bin Staging Signal Output | |||
| External DC BIAS control | Support TH1778A | |||
| RS232C | Standard 9-pin, Crossed | |||
| RS485 | Accept conversion or external RS232 to RS485 module | |||
| Power-on warm-up time | 60 minutes. | |||
| Input Voltage | 100-120VAC/198-242VAC selectable, 47-63Hz | |||
| power wastage | Not less than 130VA | |||
| Dimensions (WxHxD) mm3 | 430x177x265 | |||
| Weight (kg) | 11kg | |||
■ High resolution: 10.1 inches, resolution 1280*800, capacitive touch screen
■ High stability and consistency: 14 range configurations
■ High power: signal level: 20V/100mA
Built-in DC bias: ±40V/100mA
Built-in bias current source: 2A
■ DCR level: 20V/100mA
■ High speed: dual CPU architecture, the fastest test speed up to 1800 times / s
■ 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
■ 四参数测量
■ 201点多参数列表扫描功能
■ 图形扫描功能，4轨迹任意选择，支持1/2/4分屏
■ 分选功能：LCR模式10档分选
■ 高兼容性：支持SCPI/MODBUS指令集，
兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A
■ 无源元件：
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件：
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特
性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件：
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
■ 介质材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料：
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料：
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
■ 各种传感器:
电子皮肤、振镜图像滤光阵列传感器
| standard equipment | |||||
| Accessory Name | model number | ||||
| Boxed Four-Ended Insulated Locking Kelvin Test Leads | TH26011BS | ||||
| fixture (machining) | TH26048 | ||||
| short circuit board | TH26010 | ||||
| optional | |||||
| Accessory Name | model number | ||||
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