DC Overlap Test System Model 11300
DC Overlap Test System Model 11300
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DC Overlap Test System Model 11300

DC Overlap Test System Model 11300

Product Features
  • 高效率,正反向电流切换与扫描功能
  • 系统稳定度高,频率响应:20Hz到1MHz
  • 高准确度,3%输出电流准确度
  • 扩充性强,扩增最大到300Adc
  • 组立式系统,维护容易
  • 富弹性的模块化整合环境
  • 使用采正面多方进气,背面多方多组风扇排气,以达迅速排热效果
  • 搭配多功能四端测试治具
  • 采低ESR(< 10m ohm)设计连接直流重叠电流源
  • 提供Windows作业环境的联机软件

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Chroma 11300 直流重叠测试系统是一个组合测试系统包含LCR表与直流重叠电流源。

本直流重叠测试系统整合了3252/3302系列的自动零件分析仪,1320系列直流重叠电流源,等主要硬件测试设备。3252/3302系列的自动零件分析仪可以直接控制1320系列直流重叠电流源的输出。宽广的测试规格环境,最大可达300A直流重叠,满足如RD、QC、QA等不同的应用环境的测试需求,提供具经济效益的采购选择。

本系统针对大直流电流而设计,最大到300A。在直流重叠电流源间连接采低ESR(<10m ohm)设计,降低热能产生与提高量测结果的精准度。并搭配多功能四端测试治具,可以量测多种DUT,包含SMD DUT、DIP ring core DUT等。

本系统可透过Windows作业环境的联机软件或LCR表本身的扫描功能,提供Power Choke扫描特性分析图形。提供手动触发或自动触发方式多点扫描直流重叠可以分析铁芯特性,包含电感质量检阅和产品功能分析。Chroma 11300是各式电源供应器的磁性Choke与Core最好的测试解决方案。

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▲ L-I Curve Software

model number relate (a story or information)
11300 直流重叠测试系统
A113008 DIP 100A四端测试治具
A113009 SMD 60A四端测试治具(需搭配A113008)
A113010 SMD 100A四端测试治具(需搭配A113008)
A113012 真空产生器 (搭配A113009使用)
A113014 真空汞浦 (搭配A113009使用)
LCR Meter LCR表 3252/3302系列
Bias Current Source 直流重叠电流源 1320/1320S系列
A800016 11300系统19吋20U/35U/41U机箱
A113017 LCR 分析软体
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DC Overlap Test System Model 11300DC Overlap Test System Model 11300

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Product consultation and purchase:18218718851

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