Comprehensive test and measurement service provider-Shenzhen Weike Electronic Technology Co.
Chroma 1810为针对磁性组件在功率消耗与温度影响关系所开发的测试设备，其具有直流电流源，可测试磁性组件的铜损损失；亦具有交流电压源，可测试磁性组件之铁损损失。铜损与铁损为造成磁性组件温度上升的主要因素，温度过高会影响磁性组件之感量。质量粗劣的磁性组件之功率消耗较大，而其感量可能会随着温度上升而会较大幅度的下降，在应用上较容易发生电气异常现象，为高风险的产品。
Chroma 1810可同时提供交直流电源来测试磁性组件，透过温度计来量测其温度，并利用高频功率表来量测磁性组件在不同频率的功率损失，提供用户在做磁性组件材料开发分析使用，也可测试同一感量的组件在不同电气条件环境下所呈现的电气反应。Chroma 1810可配合软件来做长时间纪录磁性组件的温度变化与消耗功率，简易方便的操作可节省人力，且测试结果报告可作为分析的依据。Chroma 1810为分析磁性组件的最佳平台。
| model number | relate (a story or information) |
| 1810 | 磁性组件测试系统 |
| A118016 | High Frequency Booster Module 250V/2A max. |
| A118037 | High frequency boost module 33V/30A max. |
| HF AC Tester | 可程式高频交流测试器：Model 11802, 11803 |
| DC Source | 可程控直流电源供应器：Model 62012P-80-60 |
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